Rod는 Probe Pin을 가공하기 위한 기초 소재로서 진직성과 절단단면 표면가공성등에 결함이 없어야 한다. 화학적 에칭가공과 기계적 가공등의 공정을 거처서 생산된 프로브 핀 (Probe Pin)은 Wafer Tester가 Wafer의 기능 및 성능을 실질적으로 Test를 할 수 있도록 Tester의 각 신호 배선과 Wafer상의 각 Pad를 Chip 단위로 동시에 접속시켜 주는 검사장치인 프로브 카드 (Probe Card)의 핵심부품입니다.
Probe Pin의 활용
프로브 핀 (Probe Pin)은 웨이퍼 상태의 반도체 칩 검사공정에 필요한 장치인 Probe Card 의 측정장치(ATE)와 반도체 칩 위의 전극(Pad)을 전기적으로 연결시켜주는 부품으로 사용되어지고 있습니다.
