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텅스텐필라멘트
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Sleeve
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반도체용 부품
반도체용 ROD
디스플레이용 부품
CCFL용 냉음극 전극
관련장비
텅스텐필라멘트 관련장비
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*. 요구자 사양에 맞는 설계 가능 
 
반도체용 ROD란?
Rod는 Probe Pin을 가공하기 위한 기초 소재로서 진직성과 절단단면 표면가공성등에 결함이 없어야 한다. 화학적 에칭가공과 기계적 가공등의 공정을 거처서 생산된 프로브 핀 (Probe Pin)은 Wafer Tester가 Wafer의 기능 및 성능을 실질적으로 Test를 할 수 있도록 Tester의 각 신호 배선과 Wafer상의 각 Pad를 Chip 단위로 동시에 접속시켜 주는 검사장치인 프로브 카드 (Probe Card)의 핵심부품입니다.
 
Probe Pin의 활용

프로브 핀 (Probe Pin)은 웨이퍼 상태의 반도체 칩 검사공정에 필요한 장치인 Probe Card 의 측정장치(ATE)와 반도체 칩 위의 전극(Pad)을 전기적으로 연결시켜주는 부품으로 사용되어지고 있습니다.

 
반도체용 ROD의 종류

레늄 텅스텐 + Ni 도금와이어

레늄 텅스텐(Ni 도금 하지않음)
일반 텅스텐 + Ni 도금와이어  
 
 
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